|
|||||||||||||
Infračervená kamera SVIT |
|||
V oblasti medicíny prináša termovízna kamera možnosť vykonávať termografické vyšetrenia pacientov za účelom včasnej a preventívnej diagnózy celého radu chorôb pred objavením
sa morfologických zmien v tkanivách ako aj subjektívnych pocitov zdravotných problémov pacientov. Najdôležitejšou výhodou termovíznej diagnostiky je jej absolútna neškodnosť a neinvazívnosť.
S pomocou termovíznej kamery môžeme vykonávať opakované merania jednotlivých oblastí pokožky pacienta s akumuláciou informácií o stave organizmu v medicínskej databáze.
Tepelný zobrazovací systém SVIT drží rekord v tepelnej citlivosti s klasickými medicínskymi tepelne zobrazovacími systémami - štandardná odchýlka šumu v režime bežnej prevádzky
prístroja na väčšine matričných prvkov korešponduje s teplotou približne 0,025 °C. Vysoké tepelné rozlíšenie je obzvlášť dôležité pri používaní prístrojov v medicíne, keďže umožňuje
zobrazovanie nízko kontrastných oblastí termogramov, dôležitých pre diagnostiku. Tepelné zobrazovacie systémy s tepelným rozlíšením do 0,1 °C vedie k zlievaniu nízkokontrastných
oblastí termogramov, a zložky jemnej štruktúry (cievna stavba, mierna ohnisková hyper- a hypotermia) sa menia na veľké škvrny a stávajú sa neviditeľnými. V tomto prípade je vyššie priestorové
rozlíšenie takýchto termovíznych kamier (256x256 elementov za sebou) jednoducho nadbytočné. Tepelnozobrazovací systém SVIT je termografickou kamerou tretej generácie, ktorá pracuje v reálnom čase. Ako fotorecepčný element slúži ohnisková matrica polovodičových kondenzátorov
na báze InAs (obr. 1). Kamera je určená na tepelné meranie a analýzu statických a dynamických obrazov tepelnej kondície objektov. Stacionárna kamera vykázala dobré výsledky pri riešení
problémov medicínskej diagnózy chorôb metódou medicínskej termografie, a tiež pri riešení množstva technických a vedeckých problémov v rozličných odvetviach národného hospodárstva,
napríklad pri meraní dynamických termogramov povrchu rotačných pecí na produkciu cementu. Všetky materiály s teplotou nad -273 °C (0 °K), emitujú elektromagnetické žiarenie, ktoré v súlade s Planckovým vzťahom môžeme prezentovať vo forme, ukázanej na obr.2 (zobrazená je závislosť
emisie fotónov na vlnovej dĺžke pri dvoch teplotách čierneho telesa). Pri zvýšení teploty objektu sa množstvo emitovaných kvánt žiarenia - (infračervené žiarenie) s fixnou vlnovou dĺžkou zvyšuje.
Emitované svetelné kvantá, vrátane neviditeľných (infračervených) s vlnovou dĺžkou > 1 mkm je možné zachytiť senzormi infračerveného žiarenia (polovodičové fotónové senzory). Rozsah spektra odporúčanej matrice je 2,65-3,05 mkm. Podľa vývojárov je to pre množstvo termografických problémov veľmi výhodný spektrálny rozsah. Toto, spolu so skutočnosťou, že pre prijímače fotónov závislosť množstva informácií dopadajúcich kvánt žiarenia (napríklad pre T=30 °C, teplota na povrchu ľudskej kože) a parazitické kvantá pozadia (teplota okolitého pozadia s t=25 °C) sa zvyšuje pri poklese vlnovej dĺžky žiarenia. Pre rozsah spektra 8,5-12 mkm, je pre prijímače na základe zlúčenín merkúria, ortute a telúru charakteristický pomer 1,08, pre rozsah 7,5-8 mkm (prijímač na báze supermriežky AlGaAs/GaAs) - 1,1, pre rozsah 4,5-5 mkm (prijímače na báse InSb a silicia platiny) - 1,13, pre rozsah 3,5-3,9 (prijímače na báze InSb a silicia platiny) - 1,23, pre rozsah 2,65-3,05 mkm (matrica na báze InAs) - 1,3 a pre rozsah 1,4-1,8 mkm - 1,6. Ako celok toto umožňuje matriciam v oblasti krátkych vĺn jednoduchšie zaznamenávať malé teplotné kontrasty objektov. Naviac, pri poklese vlnovej dĺžky radiácie sa znižuje parazitický tok pozadia miestnosti, čo zjednodušuje okruh čítania signálov.
Prvky ohniskovej matrice premieňajú svetelné kvantá na elektrické náboje, ktoré sú spracovávané kremičitým multiplexorom (Obr.3), následne zosilnené, predbežne spracované elektronickým
obvodom a prenesú sa do počítača (Obr.4). Na obrazovke monitoru získame ako výsledok termovízny obraz objektu (termogram). 1 - objektív, 2 - kalibračné zariadenie, 3 - studená membrána, 4 - matrica [FPU], 5 - vákuový kryostat s priezračným oknom, 6 - generátor manažéra impulzov a sústavného napätia,
7 - zosilovač s diferenciálovým výstupom, 8 - tepelný merač [FPU] automatický nástroj zapínania mriežkového predpätia základnej InAs vrstvy, 9,14 - jednotka na kontrolu a synchronizáciu,
10 - ACP, 11 - sčítavacia jednotka, 12 - prideľovač pamäte, 13,16 - pamäťové banky, 15 - jednotka na spojenie s počítačom, 17 - počítač
|
Copyright 2011, powered by PROPAG, s.r.o. |